Quantitative analysis of strain relaxation and mosaicity in short period Si m Ge n superlattices using reciprocal space mapping by x-ray diffraction

Varování

Publikace nespadá pod Filozofickou fakultu, ale pod Přírodovědeckou fakultu. Oficiální stránka publikace je na webu muni.cz.

Autoři	KOPPENSTEINER E. HOLÝ Václav
Rok publikování	1994
Druh	Článek v odborném periodiku
Časopis / Zdroj	Solid-State Electronics
Fakulta / Pracoviště MU	Přírodovědecká fakulta
Citace
Obor	Fyzika pevných látek a magnetismus
Související projekty:	Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur