Structural characterization of reactive ion-etched semicond uctor nanostructures using x-ray reciprocal space mapping

Varování

Publikace nespadá pod Filozofickou fakultu, ale pod Přírodovědeckou fakultu. Oficiální stránka publikace je na webu muni.cz.

Autoři	BAUER G. DARHUBER A. HOLÝ Václav
Rok publikování	1996
Druh	Článek v odborném periodiku
Časopis / Zdroj	Mat. Res. Soc. Symp. Proc.
Fakulta / Pracoviště MU	Přírodovědecká fakulta
Citace
Obor	Fyzika pevných látek a magnetismus
Související projekty:	Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur