Quantitative Study of Interface Roughness Replication in Multilayers Using X-ray Reflectivity and Transmission Electron Microscopy

Varování

Publikace nespadá pod Filozofickou fakultu, ale pod Přírodovědeckou fakultu. Oficiální stránka publikace je na webu muni.cz.

Autoři	CHLÁDEK M. HOLÝ Václav
Rok publikování	1996
Druh	Článek v odborném periodiku
Časopis / Zdroj	Appl. Phys. Lett.
Fakulta / Pracoviště MU	Přírodovědecká fakulta
Citace
Obor	Teoretická fyzika
Související projekty:	Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur