Microdiffraction imaging of dislocation densities in microstructured samples

• Název česky: Mikrodifrakční zobrazování hustoty dislokaci v mikrostrukturních vzorcích
• Autoři: LÜBBERT D.; BAUMBACH T.; HOLÝ Václav; MIKULÍK Petr; HELFEN L.; PERNOT P.; ELLYAN M.; KELLER S.; KATONA T.M.; DENBAARS S.P.; SPECK J.
• Rok publikování: 2008
• Druh: Článek v odborném periodiku
• Časopis / Zdroj: Europhysics Letters
• Fakulta / Pracoviště MU: Přírodovědecká fakulta
• www: http://www.sci.muni.cz/~mikulik/Publications.html#LubbertBaumbachHoly-EPL-2008
• Obor: Fyzika pevných látek a magnetismus
• Klíčová slova: X-ray diffraction; X-ray topography; Microdiffraction; Rocking curve imaging; Dislocations; GaN
• Popis: Vyvinuli jsme rtg mikrodifrakční metodu, která umožňuje současně mikrometrové laterální rozlišení strukturní dokonalosti krystalu, stejně jako získání statické informace o makroskopicky ozářeném vzorku. Metoda dovoluje detailní charakterizaci tvarovaných substrátů pokrytých epitaxní vrstvou. Metoda umožňuje analyzovat lokální rozorientaci krystalitů a zrn na ozářené ploše vzorku a dále kvalitativně odhadnout hustotu dislokací v zrnech.

Související projekty

• Fyzikální a chemické vlastnosti pokročilých materiálů a struktur